1、按測試樣品分類，可分為：晶圓測試探針臺(tái)、LED測試探針臺(tái)、功率器件測試探針臺(tái)、MEMS測試探針臺(tái)、PCB測試探針臺(tái)、液晶面板測試探針臺(tái)、太陽能電池片測試探針臺(tái)、材料表面電阻率測試探針臺(tái)、納米器件測試探針臺(tái)。

2、按應(yīng)用及測試環(huán)境分類，可分為：高頻、射頻及微波測試探針臺(tái)、高/低溫環(huán)境測試探針臺(tái)、高/低溫真空環(huán)境測試探針臺(tái)、低電流（fA級）測試探針臺(tái)、IC/IV/p-IV測試探針臺(tái)、高壓、大電流測試探針臺(tái)、特殊氣體環(huán)境測試探針臺(tái)、磁場環(huán)境測試探針臺(tái)、雙面點(diǎn)針測試探針臺(tái)、全封閉式探針臺(tái)（非真空環(huán)境）。

3、按級別分類可分為：簡易型探針臺(tái)、標(biāo)準(zhǔn)型探針臺(tái)、分析型探針臺(tái)、高端型探針臺(tái)。

4、按操作方式可分為：手動(dòng)型、半自動(dòng)型、全自動(dòng)型。

5、按特殊應(yīng)用測試分為：非標(biāo)準(zhǔn)類結(jié)構(gòu)測試探針臺(tái)。